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日本新产品光学薄膜检查照明系统将上市

作者:未知 文章来源:慧聪网 点击数 更新时间:2008/11/16 19:34:31 文章录入:贯通编辑B 责任编辑:贯通编辑B

日本MEC在“FPDInternational2008”上展出了目视检查照明系统“B30系列”,采用该系统更易于看到光学薄膜的划痕等。该产品将于2008年12月上市。价格为约30万日元。

照明系统

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    卷对卷生产光学薄膜时,容易产生周期性缺陷,由于不一定都需要全面检查,目前除大型厂商外,大部分企业都采用目视检查。原照明系统存在的问题是,检查用光直接照入工作人员的眼睛,眼睛疲劳会使检查准确度下降。此次采用了从一侧向薄膜照射卤素灯光,光源不会直接照入工作人员眼睛的构造。另外,通过切换照明位置,还便于识别纵向或横向的划痕。

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