【搜狐IT消息】据国外媒体2月22日报道，Google公司的研究人员日前发布了一个有关硬盘寿命和性能监控技术有效性的报告。这个报告指出，现有的技术只能预告实际发生的一半的硬盘故障，其效果被夸大。

　　众所周知的是，今天的硬盘都内置了一种所谓SMART（自我监控、分析和报告技术），这种固件可以监控硬盘工作时的多个指标，比如寻道错误次数、磁盘运转时间等。

　　Google公司的研究人员分析了超过十万个硬盘的工作数据，这些硬盘用于Google公司的信息系统，其转速从5400转（每分）到7200转，容量从40G到80G。根据长时间的监测和分析，Google公司最近发布了一个名叫《大批量硬盘失效分析》。

　　这份报告指出，SMART并非人们想象的那么有效。有关磁盘检测方面的数据和信息大多来源于硬盘厂商“一家之言”，缺乏第三方的研究分析。

　　Google公司的研究人员发现，磁盘故障和工作环境温度和工作活跃程度没有直接的关系。在所有SMART监控的磁盘参数中，一些对于磁盘失效有影响，但是，另外一些参数没有作用。Google发现，在所有磁盘失效的原因中，大约56%的原因并不在SMART监控的范围内。

　　此外，Google考虑了所有的SMART参数以及硬盘工作温度，结果发现大约有36%的故障原因完全无法被预估到，即SMART技术无法预告并且解释这些硬盘故障原因。（沈维霓）