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日本工程使闪存测试仪实现小型及低耗电化

作者:未知  来源:技术在线   更新:2010-11-30 13:10:37  点击:  切换到繁體中文

 

爱德万测试集团(AdvantestGroup)的日本工程(JapanEngineering)支持小型低耗电闪存的测试仪“B8502”及工程师站(EngineeringStation)“B8502ES”,2010年11月起上市。这两款产品还将在2010年12月举办的“SEMICONJapan2010”上展示。

    “B8502”采用了集测试功能成于一枚芯片的IC。由此,在可将4736个信号引脚和256个电源收纳在约1.0m3容积内的同时,还将耗电量降至4kVA。这样,在削减了设备投资和运行成本的情况下,还能够同时测量256个芯片。试验频率为66MHz,价格为7000万日元以上。“B8502ES”是用于“B8502”的工程师站。采用了使用了同一测试模块的PIN卡,并且使用了相同构造的插板。其结果,对从调试到量产能够提供相同的操作环境,无需改变开发部门编制的程序,即可直接作为量产用测试程序使用。价格为1200万日元以上。

    另外,虽然不在“SEMICONJapan2010”上展出,但该公司从2010年11月已经开始了老化测试仪“P3505”的销售。标配了基于硬件控制的闪存测量功能,据称测试时间比该公司原设备缩短了90%。并且,通过同时测试约12288个芯片,提高了测试仪的处理能力。测试频率最大为20MHz,温度范围为-10~+150℃,价格为5000万日元以上。


 

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